Un nuevo microscopio puede examinar los genes
Científicos de IBM informan que, han salvado un obstáculo fundamental para la mejora de los microscopios que utilizan rayos de luz y que ahora pueden examinar y analizar directamente fragmentos de materia tan pequeños como genes. El aparato también puede rastrear a gran velocidad dispositivos de almacenaje de datos ópticos, lo que abre una vía para hacer y usar disquetes de memoria del tamaño de monedas, con una capacidad de almacenaje cada uno equivalente a 30 largometrajes.Se dice que el nuevo microscopio es tan preciso que puede en potencia determinar los espectros de átomos sueltos. El usu...
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Científicos de IBM informan que, han salvado un obstáculo fundamental para la mejora de los microscopios que utilizan rayos de luz y que ahora pueden examinar y analizar directamente fragmentos de materia tan pequeños como genes. El aparato también puede rastrear a gran velocidad dispositivos de almacenaje de datos ópticos, lo que abre una vía para hacer y usar disquetes de memoria del tamaño de monedas, con una capacidad de almacenaje cada uno equivalente a 30 largometrajes.Se dice que el nuevo microscopio es tan preciso que puede en potencia determinar los espectros de átomos sueltos. El usuario de un microscopio tradicional óptico puede percibir objetos pequeños siempre que éstos sean mayores que las longitudes de onda de la luz utilizada para verlos. Sin embargo, las longitudes de onda de partículas atómicas como electrones son mucho más cortas que las longitudes de onda de la luz y, en 1931, este hecho fue explotado en el microscopio electrónico, que utiliza un haz de electrones para lograr imágenes de objetos ultrapequeños.
Desde entonces, el microscopio electrónico, el atómico y otros han permitido el examen de objetos incluso menores, incluidos átomos vistos como protuberancias sobre superficies muy pulidas. Pero estos tipos de microscopio no producen espectros de átomos y moléculas.
El nuevo microscopio emplea lentes normales para dirigir la luz láser al punto más pequeño posible de una parte muy delgada de la muestra. Una sonda de silicio se coloca bajo la muestra. La punta de la sonda está afilada mediante grabado hasta un grosor de un nanometro (una milmillonésima de metro), unas cinco veces la anchura de un átomo. La sonda de silicio, que prácticamente toca la muestra, está montada sobre un mecanismo rastreador que hace vibrar la sonda acercándola y alejándola de la muestra 200.000 veces por segundo. Al vibrar, la punta dispersa parte de la luz que le llega después de pasar a través de la muestra y otro dispositivo combina la luz dispersa con luz sin dispersar para producir un patrón de interferencia y revelar la composición química del objeto. Tras muchos rastreos sucesivos, se forma una imagen del objeto.