Investigadores de IBM consiguen imágenes inéditas de átomos

Un equipo de investigadores ha conseguido producir imágenes de átomos y de los vínculos que los unen entre sí gracias a una nueva técnica microscópica, anunció el pasado jueves la multinacional norteamericana IBM.Unas imágenes tan detalladas deberían ayudar a medio plazo a desarrollar mejores materiales electrónicos o dotarlos de nuevas propiedades, precisó uno de los investigadores, Rudolf Tromp, que, como los otros dos miembros del equipo de investigación, trabaja para la IBM.

Tromp ha explicado que el nuevo método permitirá ayudar a comprender cómo se unen los átomos entre sí para fo...

Un equipo de investigadores ha conseguido producir imágenes de átomos y de los vínculos que los unen entre sí gracias a una nueva técnica microscópica, anunció el pasado jueves la multinacional norteamericana IBM.Unas imágenes tan detalladas deberían ayudar a medio plazo a desarrollar mejores materiales electrónicos o dotarlos de nuevas propiedades, precisó uno de los investigadores, Rudolf Tromp, que, como los otros dos miembros del equipo de investigación, trabaja para la IBM.

Tromp ha explicado que el nuevo método permitirá ayudar a comprender cómo se unen los átomos entre sí para formar moléculas, así como las características atómicas de la superficie del silicio un componente esencial de los chips electrónicos. Esta nueva técnica debería también ayudar a los biólogos a comprender mejor el comportamiento de las membranas celulares, añadió.

Las imágenes de la superficie del silicio obtenidas por este equipo de la IBM muestran átomos que se parecen a bolas blancas con límites poco definidos, y los vínculos entre los átomos son zonas blancas igualmente poco claras.

Las imágenes han sido obtenidas gracias a la técnica denominada scanning tunnelling microscopy: una sonda extremadamente fina con un átomo en su extremidad se acerca al elemento en estudio; se transmite entonces una corriente eléctrica para crear una especie de túnel entre la sonda y el elemento en estudio.

La sonda evoluciona sobre el elemento, y el registro por el microscopio de la distancia recorrida por la corriente eléctrica permite establecer un mapa de la superficie del elemento estudiado.