ELECTRÓNICA Experimentos clave sobre la vida del electrón en un metal
La exploración de la dinámica de los electrones en una superficie metálica es un reto de investigación básica, pero además, es importante en muchos ámbitos de aplicación en electrónica e incluso en el desarrollo de dispositivos cuánticos. La observación de esos procesos de transferencia de electrones es extremadamente difícil. En este ámbito de física de la materia condensada, un equipo formado por investigadores de Alemania, España y Reino Unido ha resuelto un viejo problema, una discrepancia entre resultados experimentales y teoría, al medir el tiempo medio que dura un hueco (la carga positi...
La exploración de la dinámica de los electrones en una superficie metálica es un reto de investigación básica, pero además, es importante en muchos ámbitos de aplicación en electrónica e incluso en el desarrollo de dispositivos cuánticos. La observación de esos procesos de transferencia de electrones es extremadamente difícil. En este ámbito de física de la materia condensada, un equipo formado por investigadores de Alemania, España y Reino Unido ha resuelto un viejo problema, una discrepancia entre resultados experimentales y teoría, al medir el tiempo medio que dura un hueco (la carga positiva dejada por un electrón al ser arrancado por excitación) antes de ser ocupado de nuevo. La aportación española procede del Centro Mixto CSIC-Universidad del País Vasco y del Donostia International Physics Center, que preside Pedro Miguel Echenique, Premio Príncipe de Asturias de Investigación (1998). Los resultados se presentan en la revista Science."Los enlaces atómicos en la superficie de determinados materiales metálicos permiten que numerosos electrones circulen libremente por el plano de la superficie, aunque están localizados en la dirección perpendicular a la superficie. Pero las superficies reales tienen imperfecciones y defectos a escala atómica que influyen en las vidas medias y dificultan el análisis de los experimentos", explican los investigadores.
J.Kliewer, Richard Berndt, Echenique y sus colegas han usado un microscopio de efecto túnel para seleccionar una zona de una superficie metálica relativamente limpia de defectos e impurezas, que pueden afectar a la vida media de los huecos electrónicos. "Los resultados muestran que las vidas medias son claramente mayores que los resultados obtenidos en anteriores experimentos, muy influenciados por la existencia de defectos", explican los investigadores.